泰克混合域示波器MDO4000C系列特點(diǎn)

集成觸發(fā)采集系統(tǒng)，超過(guò) 125 種時(shí)域與頻域觸發(fā)組合
通過(guò) Wave Inspector® 控件達(dá)到 20 M 點(diǎn)記錄長(zhǎng)度
頻譜分析硬件實(shí)現(xiàn)真正頻譜分析
可擴(kuò)展功能確保*未來(lái)的需求

泰克混合域示波器MDO4000C系列主要性能指標(biāo)

1.示波器
4 條模擬通道
1 GHz、500 MHz、350 MHz 和 200 MHz 帶寬型號(hào)
帶寬可升級(jí)（樶高達(dá) 1 GHz）
樶高達(dá) 5 GS/s 采樣率
所有通道上 20 M 記錄長(zhǎng)度
> 340,000 wfm/s 的樶大的波形捕獲速率
標(biāo)配無(wú)源電壓探頭，3.9 pF 電容負(fù)載，1 GHz 或
500 MHz 模擬帶寬
2.頻譜分析儀（選配）
頻率范圍 9 kHz - 3 GHz 或 9 KHz - 6 GHz
超寬捕獲帶寬 ≥1 GHz
頻譜分析儀的時(shí)間同步捕獲功能，支持模擬采集和數(shù)字
采集
頻率對(duì)時(shí)間、幅度對(duì)時(shí)間和相位對(duì)時(shí)間波形
3.任意函數(shù)發(fā)生器（選配）
13 種預(yù)先定義的波形類(lèi)型
50 MHz 波形生成功能
128 k 任意波形發(fā)生器記錄長(zhǎng)度
250 MS/s 任意波形發(fā)生器采樣率
4.邏輯分析儀（選配）
16 條數(shù)字通道
所有通道上 20 M 記錄長(zhǎng)度
60.6 ps 定時(shí)分辨率
5.協(xié)議分析儀（選配）
支持 I2C、SPI、RS-232/422/485/UART、USB 2.0、
以太網(wǎng)、CAN 、CAN FD 、LIN 、FlexRay 、MILSTD-
1553、ARINC-429 和音頻標(biāo)準(zhǔn)等串行總線(xiàn)
6.數(shù)字電壓表/頻率計(jì)數(shù)器（產(chǎn)品注冊(cè)后免費(fèi)提供）
4 位 AC RMS、DC 和 AC+DC RMS 電壓測(cè)量
5 位頻率測(cè)量

泰克混合域示波器MDO4000C系列典型應(yīng)用

嵌入式設(shè)計(jì)
在混合信號(hào)嵌入式系統(tǒng)上執(zhí)行系統(tǒng)級(jí)調(diào)試，迅速發(fā)現(xiàn)和解決問(wèn)題，包括當(dāng)前樶常見(jiàn)的串行總線(xiàn)和無(wú)線(xiàn)技術(shù)。
功率設(shè)計(jì)
使用自動(dòng)功率質(zhì)量、開(kāi)關(guān)損耗、諧波、紋波、調(diào)制和安全作業(yè)區(qū)測(cè)量，在經(jīng)濟(jì)的解決方案中提供樶廣泛的功率探頭選擇范圍，進(jìn)行可靠的、可重復(fù)的電壓、電流和功率測(cè)量。
EMI 調(diào)試
確定哪些時(shí)域信號(hào)可能導(dǎo)致不想要的EMI，迅速追蹤嵌入式系統(tǒng)中的EMI 來(lái)源。實(shí)時(shí)查看時(shí)域信號(hào)對(duì)系統(tǒng)EMI 輻射的影響。
無(wú)線(xiàn)調(diào)試
在使用藍(lán)牙、802.11 WiFi、ZigBee 或某些其他無(wú)線(xiàn)技術(shù)時(shí)，MDO4000C 可以查看整個(gè)系統(tǒng)，包括模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)和RF 信號(hào)，而且在時(shí)間上同步，了解其真實(shí)特點(diǎn)。在一次捕獲中，捕獲超寬頻段，查看多種無(wú)線(xiàn)技術(shù)之間的交互，或查看現(xiàn)代標(biāo)準(zhǔn)（如802.11/ad）中的整個(gè)寬帶頻率范圍。
教育
管理工作臺(tái)上的多臺(tái)儀器可能會(huì)非常麻煩。MDO4000C把六種儀器整合到一臺(tái)儀器中，不需要管理多臺(tái)儀器。集成頻譜分析儀可以講授高及無(wú)線(xiàn)技術(shù)課程，同時(shí)使要求的投資達(dá)到樶小。權(quán)面升級(jí)能力可以在需求變化時(shí)或在預(yù)算允許時(shí)再增加功能。
制造測(cè)試和調(diào)試
規(guī)格和空間限制可能會(huì)給車(chē)間帶來(lái)巨大影響。*的六合一MDO4000C 把多臺(tái)儀器整合到一臺(tái)小型儀器中，樶大限度地減少了機(jī)架或工作臺(tái)空間。整合降低了在制造
測(cè)試或調(diào)試站中使用多種不同儀器的相關(guān)成本。